عرض عادي
Handbook of thin film deposition : techniques, processes, and technologies / edited by Krishna Seshan.
نوع المادة :
نصالناشر:Amsterdam ; Elsevier ; 2012الناشر:Waltham : William Andrew, 2012الطبعات:3rd edوصف:xviii, 392 pages : illustrations ; 24 cmنوع المحتوى:- text
- unmediated
- volume
- 9781437778731 (hbk.)
- 1437778739 (hbk.)
- TK7872.T55 H36 2012
| نوع المادة | المكتبة الحالية | رقم الطلب | رقم النسخة | حالة | تاريخ الإستحقاق | الباركود | |
|---|---|---|---|---|---|---|---|
كتاب
|
UAE Federation Library | مكتبة اتحاد الإمارات General Collection | المجموعات العامة | TK7872.T55 H36 2012 (إستعراض الرف(يفتح أدناه)) | C.1 | Library Use Only | داخل المكتبة فقط | 30010011107566 | ||
|
كتاب
|
UAE Federation Library | مكتبة اتحاد الإمارات General Collection | المجموعات العامة | TK7872.T55 H36 2012 (إستعراض الرف(يفتح أدناه)) | C.2 | المتاح | 30010011107567 |
Browsing UAE Federation Library | مكتبة اتحاد الإمارات shelves, Shelving location: General Collection | المجموعات العامة إغلاق مستعرض الرف(يخفي مستعرض الرف)
| TK7872.O7 R53 2010 Discrete oscillator design : linear, nonlinear, transient, and noise domains / | TK7872.O7 R53 2010 Discrete oscillator design : linear, nonlinear, transient, and noise domains / | TK7872.T55 H36 2012 Handbook of thin film deposition : techniques, processes, and technologies / | TK7872.T55 H36 2012 Handbook of thin film deposition : techniques, processes, and technologies / | TK7874 .A3352 1988 Advanced research in VLSI : proceedings of the fifth MIT conference, March 1988 / | TK7874 .A3352 1988 Advanced research in VLSI : proceedings of the fifth MIT conference, March 1988 / | TK7874 .B327 2010 Wafer-level testing and test during burn-in for integrated circuits / |
Includes bibliographical references and index.
