عرض عادي
Solving complex industrial problems without statistics / Ralph R. Pawlak.
نوع المادة : نصاللغة: الإنجليزية الناشر:Boca Raton : Taylor & Francis, a CRC title, part of the Taylor & Francis imprint, a member of the Taylor & Francis Group, the academic division of T&F Informa, plc, 2016وصف:xxiv, 143 pages : illustrations ; 23 cmنوع المحتوى:- text
- unmediated
- volume
- 9781498759083
- TA330 .P39 2016
المحتويات:
A different approach -- Assembly problem -- Faulty thinking -- Batch mixing process -- Component assembly -- Assigning responsibility -- Electrical components -- New process development -- Innovative solutions -- Electronic chip wafer -- A machining problem -- Systemic chaos -- Sequester and shutdown -- Corroboration of results.
نوع المادة | المكتبة الحالية | رقم الطلب | رقم النسخة | حالة | تاريخ الإستحقاق | الباركود | |
---|---|---|---|---|---|---|---|
كتاب | UAE Federation Library | مكتبة اتحاد الإمارات General Collection | المجموعات العامة | TA330 .P39 2016 (إستعراض الرف(يفتح أدناه)) | C.1 | Library Use Only | داخل المكتبة فقط | 30020000115382 | ||
كتاب | UAE Federation Library | مكتبة اتحاد الإمارات General Collection | المجموعات العامة | TA330 .P39 2016 (إستعراض الرف(يفتح أدناه)) | C.2 | المتاح | 30020000115381 |
Browsing UAE Federation Library | مكتبة اتحاد الإمارات shelves, Shelving location: General Collection | المجموعات العامة إغلاق مستعرض الرف(يخفي مستعرض الرف)
TA330 B34 1977 Advanced engineering mathematics / | TA330 B346 1980 Specialist techniques in engineering mathematics / | TA330 .J86 1980z الرياضيات لفروع الهندسة / | TA330 .P39 2016 Solving complex industrial problems without statistics / | TA330 .P39 2016 Solving complex industrial problems without statistics / | TA330 .S26 1996 التحليلات الهندسية / | TA332.5 .A27 2014 مفاهيم أساسية في الهندسة (لطلبة كليات العلوم التربوية) / |
Includes index.
A different approach -- Assembly problem -- Faulty thinking -- Batch mixing process -- Component assembly -- Assigning responsibility -- Electrical components -- New process development -- Innovative solutions -- Electronic chip wafer -- A machining problem -- Systemic chaos -- Sequester and shutdown -- Corroboration of results.